![](https://indexadhu.hit.gemius.pl/redot.gif?id=nSCbubuYpDWJZLZs0TssLrbt33Lk5kbipuiZrkg89G3.g7/stparam=skrjjshgja/fastid=eeorncrnbsilkneetelidigetojp/nc=0)
Egyedi atomi töltést mértek
Gerhard Meyer, az IBM zürichi kutatólaboratóriumának munkatársa 2004-ben mutatta meg először, hogy egyedi atomi töltések is megmérhetők a pásztázó alagútmikroszkóp (STM) segítségével. Ennél az eljárásnál azonban a mintának egy elektromosságot vezető anyag felszínén kell lennie, hogy a töltések elmozdulhassanak.
Az új módszernél az úgynevezett atomi erő mikroszkópiát (AFM) alkalmazták. Ennél a kutatási eszköznél a minta felszínét aprócska tűhegy pásztázza végig, feltérképezve atomi méretű domborzatát. A tűhegy ebben az esetben egyetlen atomban végződött, mely a töltéssel bíró mintához közeledve kissé megváltoztatja rezgésének frekvenciáját – írja a Science tudományos magazinban megjelent közlemény alapján a BBC hírportálja.
A tűhegyet tartó konzol ebből eredő kitérése kisebb egy atom átmérőjénél, a kutatócsoport ezt mérte, és ebből állapította meg, hogy egyetlen arany- vagy ezüstatomnak egy többletelektronja van-e, vagy éppen hiánya. A töltésátadási folyamatok ismerete a napelemek hatékonyságának meghatározásában is segíthet. „Ez az, ami olyan fontossá teszi ezt a technikát; nem csupán egy atom töltöttségi állapotáról van szó, tovább kívánunk lépni, molekulákat vizsgálni és a töltések eloszlását mérni” – mondta Leo Gross, az IBM munkatársa.
![](https://indexadhu.hit.gemius.pl/redot.gif?id=nSCbubuYpDWJZLZs0TssLrbt33Lk5kbipuiZrkg89G3.g7/stparam=skrjjshgja/fastid=eeorncrnbsilkneetelidigetojp/nc=0)